在電子行業,尤其是芯片、半導體器件生產過程中,超純水是不-可或-缺的關鍵輔助材料,廣泛用于晶圓清洗、光刻膠剝離、電鍍等核心工序。水中的總有機碳(TOC)若超過限定標準,會在晶圓表面形成有機膜殘留,導致電路短路、光刻圖案失真,甚至引發芯片報廢,造成巨大經濟損失。傳統超純水 TOC 檢測方法存在響應速度慢、檢測下限高的問題,難以滿足電子行業對水質 “零-污-染" 的嚴苛要求。水中總有機碳分析儀的應用,為電子行業超純水質量管控提供了精準解決方案,成為芯片生產的 “水質護航者"。

這款水中總有機碳分析儀針對電子行業超純水特性,采用先進的紫外 - 臭氧協同氧化技術,配合高靈敏度的非色散紅外檢測器,能將超純水中痕量有機碳(低至 μg/L 級別)徹-底氧化為二氧化碳,實現精準檢測。其檢測范圍覆蓋 0.001mg/L - 10mg/L,最-低檢出限可達 0.0002mg/L,完-全符合電子行業對超純水 TOC≤5μg/L 的嚴格標準。同時,設備配備超純水專用預處理模塊,可有效去除水中的離子、顆粒物等干擾物質,避免對檢測結果產生影響,確保數據的準確性與穩定性。
在生產適配性上,該分析儀充分契合電子行業連續化、自動化的生產特點。支持在線式安裝,可直接接入超純水制備系統、晶圓清洗設備的進水與回水管路,實現 24 小時不間斷監測。檢測數據能通過工業以太網實時傳輸至生產控制系統(DCS),當 TOC 濃度出現異常波動時,系統會立即觸發多級預警,通過車間顯示屏、管理人員手機 APP 同步推送報警信息,并聯動超純水制備系統自動啟動強化過濾、紫外線氧化等應急處理流程,在 10 秒內響應,30 分鐘內將水質恢復至合格標準,最-大-程-度減少對生產的影響。
為滿足電子行業潔凈車間的環境要求,該分析儀在設計上進行了特殊優化。機身采用 304 不銹鋼材質,表面經過電解拋光處理,粗糙度 Ra≤0.8μm,可有效防止灰塵附著與微生物滋生,符合 ISO 14644 - 1 Class 5 級潔凈室標準。儀器內部管路采用全氟烷氧基烷烴(PFA)材質,具有優異的化學穩定性與低溶出性,避免管路自身釋放有機物對超純水造成二次污染,確保檢測過程的 “無污染" 操作。

在數據管理與合規性方面,該分析儀同樣表現突出。內置符合 SEMI(國際半導體產業協會)標準的數據存儲與追溯系統,可自動記錄近 5 年的檢測數據、儀器校準記錄、維護日志,支持按時間、檢測點位等維度快速查詢。生成的檢測報告包含檢測時間、水樣編號、TOC 濃度值、儀器狀態等詳細信息,格式可兼容電子行業常用的 MES(制造執行系統),滿足客戶內部質控審計與外部監管檢查需求。
從超純水制備到生產工序水質監控,水中總有機碳分析儀以超高靈敏度、快速響應能力,為電子行業筑牢超純水質量防線,助力企業提升芯片生產良率,推動電子產業高質量發展。